LanS

Laborator de analiza structurala

Este un laborator nou creat pentru analiza structurală de inaltă sensibilitate și mare productivitate a materialelor solide și a straturilor subţiri prin difracţie de raze X. Laboratorul permite efectuarea de analize structurale de mare fineţe a: grafenelor, materialelor pentru conversia foto-termală - materiale foto-absorbante selectiv (oxinitruri, oxicarburi metalice, materiale compozite metal-oxid etc.), a straturilor subţiri multi-element, a materialelor oxidice utilizate in convesia energiei calorice sau solare in energie electrică, a noi materiale biocompatibile.

Laboratorul a fost dotat cu două sisteme de analiză structurală:

Sistem de caracterizare RHEED cu fascicul de electroni

Sistemul RHEED permite monitorizarea in-situ a proceselor de depunere prin depunerea pulsată laser (PLD), pentru obţinerea unor informaţii vitale despre aranjarea periodică a atomilor pe suprafeţe in timpul proceselor de depunere.

Sistemul RHEED cu fascicul de electroni asigură controlul direct al numărului de celule din fiecare strat la depunerea unei structuri multistrat, precum și studiul efectelor cinetice de suprafată și al rugozitaţii interfetelor. Numărul de straturi subţiri este monitorizat cu precizie in timpul depunerii. Sistemul permite monitorizarea formării interfeţelor la scară micro- și nanometrică prin controlul ratei de creștere a filmului, controlul constantelor de reţea, respectiv al tensiunilor in film, al coerenţei suprafeţei și structurii/reconstrucţiei suprafeţelor

Sistem de caracterizare structurală prin difracţie de raze X, multimodular, de rezoluţie inaltă HR-XRD - Rigaku SmartLab 3

Sistemul Rigaku SmartLab 3 integrează toate modulele necesare cercetărilor avansate pentru pulberi și filme subţiri. Difractometrul funcţionează atat in geometrie de transmisie cat și in cea de reflexie, incluzand funcţiile de autoaliniere in diferite configuraţii de lucru. Difractometrul permite efectuarea următoarelor tipuri de masuratori: difracţie de raze X la incidenţă razantă; reflectivitate cu raze X; difracţie de raze X de inaltă rezoluţie; analiză de textură și tensiuni; analiză de rocking curve și mapare in spaţiul reciproc.